Determination of bulk etch rate for CR-39 nuclear track detectors using an X-ray fluorescence method
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Papachristodoulou, C.
Patiris, D.
Ioannides, K. G.
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
The thickness of a CR-39 detector is determined using an energy dispersive X-ray fluorescence (EDXRF) method of analysis. The method is based on exciting a suitable target and measuring the intensity of its fluorescence X-ray lines passing through the CR-39 sample in a fixed geometry. By properly selecting the target material, the method succeeds in assessing the thickness change of CR-39 detectors etched for different time intervals. The bulk etch rate (V-b) may thus be obtained, which is an important parameter for any solid state nuclear track detector. Application of the EDXRF method yielded a value of V-b = (2.01 +/- 0.04) mu m h(-1) for etching in a 6 N NaOH solution at 75 degrees C. This value agrees with the bulk etch rate of (1.90 +/- 0.03) mu m h(-1), obtained by the conventional mass-change method. (C) 2007 Elsevier B.V. All rights reserved.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
edxrf, mass absorption coefficient, detector thickness, cr-39, bulk etch rate, mass-change method, atomic-force microscope, epoxy-resin, spectrometry, thicknesses, temperature, technology, science, state
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
<Go to ISI>://000251737300025
http://ac.els-cdn.com/S0168583X07013559/1-s2.0-S0168583X07013559-main.pdf?_tid=7f16534b7b881b7248846ef73285f707&acdnat=1334223178_7ba0183b89af245437a27175166016b6
http://ac.els-cdn.com/S0168583X07013559/1-s2.0-S0168583X07013559-main.pdf?_tid=7f16534b7b881b7248846ef73285f707&acdnat=1334223178_7ba0183b89af245437a27175166016b6
Γλώσσα
en
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Επιστημών και Τεχνολογιών. Τμήμα Βιολογικών Εφαρμογών και Τεχνολογιών