Μαγνητικές νανοδομές- μελέτη με μικροσκόπια AFM/MFM
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Κολιογιώργος, Αθανάσιος
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Επιστήμης Υλικών
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
Η µικροσκοπία ατοµικής δύναµης (Atomic Force Microscopy, AFM) και η παραλλαγή της,
µικροσκοπία µαγνητικής δύναµης (Magnetic Force Microscopy, MFM) ανήκουν στην
οικογένεια των µεθόδων παρατήρησης σάρωσης ακίδας (Scanning Probe Microscopy, SPM).
Οι τεχνικές αυτές χρησιµοποιούν την αλληλεπίδραση µεταξύ των ατόµων της επιφάνειας ενός
δοκιµίου και µιας ακίδας που σαρώνει το δείγµα για να παράγει µία εικόνα της επιφάνειας του
υλικού. Πρόκειται για τεχνικές που κάνουν δυνατή τη µελέτη ενός υλικού στην νανοκλίµακα,
ακόµη και στην ατοµική κλίµακα. Αυτή η δυνατότητα τις καθιστά ιδιαίτερα χρήσιµες στην
µελέτη µικροδοµηµένων και νανοδοµηµένων µαγνητικών υλικών τα οποία χρησιµοποιούνται,
µεταξύ άλλων, σε εφαρµογές όπως σπιντρονική, µαγνητικές µνήµες, µαγνητική εγγραφή αλλά
ακόµη και ως µόνιµοι ή ηµι-µόνιµοι µαγνήτες.
Στο 1ο κεφάλαιο της εργασίας αυτής γίνεται µια εισαγωγή στη µικροσκοπία ατοµικής
δύναµης. Περιλαµβάνεται ανάλυση των αρχών λειτουργίας της, των µερών που αποτελούν
ένα µικροσκόπιο ατοµικής δύναµης, καθώς και των υλικών που χρησιµοποιούνται για την
ακίδα
Στο 2ο κεφάλαιο, αναλύονται οι αρχές λειτουργίας της µικροσκοπίας µαγνητικής
δύναµης, που αποτελεί και την µέθοδο µε την οποία έγιναν οι πειραµατικές µελέτες.
Αναφέρονται επίσης παραδείγµατα χρήσης της τεχνικής αυτής από την πρόσφατη
βιβλιογραφία.
Στο 3ο κεφάλαιο, περιγράφεται αναλυτικά η λειτουργία του µικροσκοπίου ατοµικής
δύναµης AutoProbe CP-R της εταιρίας Vecco Metrology Group, µε το οποίο έλαβαν χώρα οι
µετρήσεις της εργασίας. Έµφαση δίνεται στις παραµέτρους λειτουργίας που
χρησιµοποιήθηκαν για τις ανάγκες της εργασίας. Στο 4ο κεφάλαιο, γίνεται µια εισαγωγή στις µαγνητικές δοµές, µε ιδιαίτερη έµφαση
στην έννοια της µαγνητικής περιοχής. ∆ίνονται παραδείγµατα υλικών που παρουσιάζουν
µαγνητικές νανοδοµές, και παρατήρησης µαγνητικών περιοχών µέσω της µικροσκοπίας
µαγνητικής δύναµης από την πρόσφατη βιβλιογραφία. Η παρατήρηση των µαγνητικών δοµών
αποτελεί έναν από τους κύριους σκοπούς που γίναν οι µετρήσεις αυτής της εργασίας.
Στο 5ο κεφάλαιο παρουσιάζονται τα υλικά που µελετήθηκαν σε αυτή την εργασία και
οι εικόνες που λήφθηκαν για το καθένα από αυτά µε το µικροσκόπιο ατοµικής δύναµης.
Περιλαµβάνεται µια σύντοµη αναφορά στη µέθοδο σύνθεσης λεπτών υµενίων γνωστή ως
“sputtering”, µε την οποία παρασκευάστηκαν τα υλικά αυτά. Σχολιάζονται οι εικόνες
µικροσκοπίας µαγνητικής δύναµης που λήφθηκαν ως προς τις δοµές που αποκαλύπτουν ή ως
προς την έλλειψη αυτών. Ιδιαίτερη έµφαση δίνεται στις περιπτώσεις όπου φαίνονται οι
µαγνητικές περιοχές των δειγµάτων. Γίνεται επίσης αναφορά στο πώς οι διαφοροποιήσεις στις
παραµέτρους του µικροσκοπίου αλλάζουν την εικόνα που λαµβάνεται.
Στο 6ο κεφάλαιο γίνεται µια τελική συζήτηση για τα αποτελέσµατα αυτής της
εργασίας, και τα συµπεράσµατα που προκύπτουν τόσο από τα θετικά ευρήµατα των
µετρήσεων, όσο και από τα ελλειµµατικά ευρήµατα. Αναφέρονται τρόποι βελτίωσης των
µεθόδων παρατήρησης, και προοπτικές που υπάρχουν στον χαρακτηρισµό µαγνητικών
υλικών, αλλά και γενικότερα της µελλοντικής χρήσης µαγνητικών υλικών στην τεχνολογία
του µέλλοντος.
Στο τέλος της εργασίας αναφέρονται όλες οι βιβλιογραφικές πηγές που
χρησιµοποιήθηκαν ή συνέβαλαν στη συγγραφή της διατριβής αυτής, χωρισµένες σε τρεις
κατηγορίες: συγγράµµατα (και σηµειώσεις διαλέξεων), σειρές άρθρων ή πρακτικών
συνεδρίων, και δηµοσιεύσεις επιστηµονικών περιοδικών. Οι βιβλιογραφικές αναφορές σε
κάθε κατηγορία παρατίθενται µε αλφαβητική σειρά, σύµφωνα µε το επώνυµο του πρώτου
συγγραφέα.
Atomic Force Microscopy (AFM), and Magnetic Force Microscopy (MFM), are part of the Scanning Probe Microscopy (SPM) methods. Those characterization techniques use the force between atoms of a sample surface and a tip scanning the sample to produce an image of the surface. They are methods for imaging a material on the nanoscale, or even on the atomic scale. That outstanding characteristic makes those techniques exceptionally useful in studying microfabricated and nanofabricated magnetic materials which are used in various state-of-the art applications, such as spintronics, magnetic RAM, but also in magnetic recording or even permanent of semi-permanent magnets. The first chapter of the thesis covers an introduction to Atomic Force Microscopy. It reviews the physical principles that are involved in the method, the operational parts of the atomic force microscope, and materials that are used for the tip. The second chapter follows an analysis of the Magnetic Force Microscopy (MFM), which is the technique that was used in the experiments of this thesis. The operation of the microscope used in this thesis, AutoProbe CP-R of Vecco Metrology Group, is described in the third chapter. Emphasis is put on the very parameters which were used in the experiments. An introduction to magnetic nanostructures and magnetic domains is presented in the fourth chapter. Examples of materials that exhibit magnetic nanostructures are included, as well as examples of MFM images of magnetic materials, taken from recent bibliography. Observing magnetic domains is one of the main objects of this thesis. The materials that were observed in the experiments are presented in chapter five, along with the MFM images that were acquired with the AutoProbe microscope. A brief review of the sputtering method, with which the materials were synthesized, is included. The MFM images are presented and analyzed as to the magnetic structures and properties that reveal, or as to the lack of them. Attention is drawn to the cases where magnetic domains were revealed. Included are comments accompanying images which show how changes in the parameters of the microscope affect the acquired image. The sixth chapter follows a final discussion regarding the results of the experiments. Conclusions are drawn from the images that reveal significant structures and properties, as well as from images that lack such qualities. Ways of improving the acquired images are discussed, concluding with future prospects of magnetic force imaging and nanomagnetic materials in general. All the references and sources that were used in the writing of this thesis are included in the final pages, separated in three categories: books and lecture notes, series of articles and/or conference proceedings, and scientific papers. References in each category are alphabetically listed.
Atomic Force Microscopy (AFM), and Magnetic Force Microscopy (MFM), are part of the Scanning Probe Microscopy (SPM) methods. Those characterization techniques use the force between atoms of a sample surface and a tip scanning the sample to produce an image of the surface. They are methods for imaging a material on the nanoscale, or even on the atomic scale. That outstanding characteristic makes those techniques exceptionally useful in studying microfabricated and nanofabricated magnetic materials which are used in various state-of-the art applications, such as spintronics, magnetic RAM, but also in magnetic recording or even permanent of semi-permanent magnets. The first chapter of the thesis covers an introduction to Atomic Force Microscopy. It reviews the physical principles that are involved in the method, the operational parts of the atomic force microscope, and materials that are used for the tip. The second chapter follows an analysis of the Magnetic Force Microscopy (MFM), which is the technique that was used in the experiments of this thesis. The operation of the microscope used in this thesis, AutoProbe CP-R of Vecco Metrology Group, is described in the third chapter. Emphasis is put on the very parameters which were used in the experiments. An introduction to magnetic nanostructures and magnetic domains is presented in the fourth chapter. Examples of materials that exhibit magnetic nanostructures are included, as well as examples of MFM images of magnetic materials, taken from recent bibliography. Observing magnetic domains is one of the main objects of this thesis. The materials that were observed in the experiments are presented in chapter five, along with the MFM images that were acquired with the AutoProbe microscope. A brief review of the sputtering method, with which the materials were synthesized, is included. The MFM images are presented and analyzed as to the magnetic structures and properties that reveal, or as to the lack of them. Attention is drawn to the cases where magnetic domains were revealed. Included are comments accompanying images which show how changes in the parameters of the microscope affect the acquired image. The sixth chapter follows a final discussion regarding the results of the experiments. Conclusions are drawn from the images that reveal significant structures and properties, as well as from images that lack such qualities. Ways of improving the acquired images are discussed, concluding with future prospects of magnetic force imaging and nanomagnetic materials in general. All the references and sources that were used in the writing of this thesis are included in the final pages, separated in three categories: books and lecture notes, series of articles and/or conference proceedings, and scientific papers. References in each category are alphabetically listed.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
Μικροσκοπία, Νανοτεχνολογία
Θεματική κατηγορία
Μικροσκοπία, Νανοτεχνολογία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
Γλώσσα
el
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Επιστήμης Υλικών
Όνομα επιβλέποντος
Παναγιωτόπουλος, Ιωάννης
Εξεταστική επιτροπή
Παναγιωτόπουλος, Ιώαννης
Μπέλτσιος, Κωνσταντίνος
Γεργίδης, Λεωνίδας
Μπέλτσιος, Κωνσταντίνος
Γεργίδης, Λεωνίδας
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Επιστήμης Υλικών
Πίνακας περιεχομένων
Χορηγός
Βιβλιογραφική αναφορά
Βιβλιογραφία: σ. 84-88
Ονόματα συντελεστών
Αριθμός σελίδων
88 σ.
Λεπτομέρειες μαθήματος
item.page.endorsement
item.page.review
item.page.supplemented
item.page.referenced
Άδεια Creative Commons
Άδεια χρήσης της εγγραφής: Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States