Rayleigh imaging of graphene and graphene layers
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Casiraghi, C.
Hartschuh, A.
Lidorikis, E.
Qian, H.
Harutyunyan, H.
Gokus, T.
Novoselov, K. S.
Ferrari, A. C.
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
American Chemical Society
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Nano Lett
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
We investigate graphene and graphene layers on different substrates by monochromatic and white-light confocal Rayleigh scattering microscopy. The image contrast depends sensitively on the dielectric properties of the sample as well as the substrate geometry and can be described quantitatively using the complex refractive index of bulk graphite. For a few layers (< 6), the monochromatic contrast increases linearly with thickness. The data can be adequately understood by considering the samples behaving as a superposition of single sheets that act as independent two-dimensional electron gases. Thus, Rayleigh imaging is a general, simple, and quick tool to identify graphene layers, which is readily combined with Raman scattering, that provides structural identification.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
bilayer graphene, berrys phase, graphite, interferometry, films, gas
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
<Go to ISI>://000249501900031
Γλώσσα
en
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Επιστήμης Υλικών