Efficient Partial Scan Cell Gating for Low-Power Scan-Based Testing
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Acm Transactions on Design Automation of Electronic Systems
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
Gating of the outputs of a portion of the scan cells (partial gating) has been recently proposed as a method for reducing the dynamic power dissipation during scan-based testing. We present a new systematic method for selecting, under area and performance design constraints, the most suitable for gating subset of scan cells as well as the proper gating value for each one of them, aiming at the reduction of the average switching activity during testing. We show that the proposed method outperforms the corresponding already known methods, with respect to average dynamic power dissipation reduction.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
algorithms, design, reliability, low-power testing, scan-based testing, scan cell gating, partial gating, circuits, cores
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
Γλώσσα
en
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής