High resolution RTE measurements at 0 degrees using a hemispherical analyser with lens and 2-D PSD
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
First high resolution measurements using a new electron spectrograph at 0 degrees to the beam direction are reported. The new apparatus consists of a hemispherical analyser with a mean radius of 101.6 mm, a 4-element focusing lens and 40 mm diameter 2-D position sensitive detector (PSD). Electrons are decelerated and focused in the lens prior to analysis to improve the energy resolution. As a test of the apparatus in deceleration mode, we measured the differential cross section of the F(7+)(2p(2))(1)D state produced by Resonance Transfer Excitation (RTE) in collisions of 21.78 MeV F(8+)+ H(2). An effective energy resolution of 0.25% was obtained using a deceleration factor of 4. Good agreement with known cross section Values was found. Presently, our spectrograph with a maximum count rate of about 4 kHz (limited by dead-time considerations) is more than 15 times faster than the conventional tandem zero-degree spectrometer at Kansas State University, while using a factor of 20 lower intensity beams. (C) 1999 Elsevier Science B.V. All rights reserved.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
resonance transfer-excitation, rte, auger electron spectroscopy, 0 degrees projectile electron spectroscopy, hemispherical analysers, spectrographs, position sensitive detectors
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
<Go to ISI>://000081399600035
http://ac.els-cdn.com/S0168583X99000282/1-s2.0-S0168583X99000282-main.pdf?_tid=875f1566-4de8-11e3-a898-00000aab0f01&acdnat=1384514865_8db531cfb418875b5fe74460407f6705
http://ac.els-cdn.com/S0168583X99000282/1-s2.0-S0168583X99000282-main.pdf?_tid=875f1566-4de8-11e3-a898-00000aab0f01&acdnat=1384514865_8db531cfb418875b5fe74460407f6705
Γλώσσα
en
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Επιστημών και Τεχνολογιών. Τμήμα Βιολογικών Εφαρμογών και Τεχνολογιών