Optical performance of nanocrystalline transparent Ceria films
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Patsalas, P.
Logothetidis, S.
Metaxa, C.
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
American Institute of Physics
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Applied Physics Letters
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
Ceria is a transparent oxide suitable for various optical and optoelectronic devices. In this work, we tailor independently the refractive index n and fundamental gap E-g of nanocrystalline Ceria films by varying the substrate temperature or using Ar+ ion beams during growth with electron beam evaporation. Spectroscopic ellipsometry and x-ray reflectivity are employed to study n and E-g and to identify the physical parameters that affect them. We correlate n (varies from 1.65 to 2.15 in the studied films) with the film density through a universal, square law. The film composition strongly affects E-g, which varies from 2.8 to similar to2.0 eV. The optical absorption below 3 eV and the E-g shift are attributed to O-defect states and not to modifications in interband transitions. (C) 2002 American Institute of Physics.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
thin-films, spectroscopic ellipsometry, ceo2, reflectivity, temperature, deposition
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
<Go to ISI>://000176599600026
Γλώσσα
en
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Επιστήμης Υλικών