Beam characterization of the Orsay He-afterflow polarized electron source
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Samuel, Cohen
Ouasilla, Zerhouni
J?el, Arianer
Said, Essabaa
Robert, Frascaria
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Journal of Physics D: Applied Physics
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
The measured optical properties of the Orsay polarized electron source, based on the ##IMG## [http://ej.iop.org/images/0022-3727/30/3/014/img1.gif] Penning ionization reaction are presented. The upper limit on the beam energy spread is 0.25 eV, corresponding to our experimental resolution. The highest normalized emittance obtained at low current ##IMG## [http://ej.iop.org/images/0022-3727/30/3/014/img2.gif] is ##IMG## [http://ej.iop.org/images/0022-3727/30/3/014/img3.gif] . The behaviour of these beam characteristics as a function of different relevant parameters is discussed.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
http://stacks.iop.org/0022-3727/30/i=3/a=014
Γλώσσα
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Επιστημών και Τεχνολογιών. Τμήμα Βιολογικών Εφαρμογών και Τεχνολογιών