Magnetization reversal in thin ferromagnetic films under mechanical stress
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Voltairas, P. A.
Fotiadis, D. I.
Massalas, C. V.
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
Elsevier
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
International Journal of Engineering Science
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
A simple micromagnetic model is presented to study the effect of stress on the magnetization reversal in thin ferromagnetic films ( well-known as inverse magnetostrictive effect). To simplify the calculations the plane strains are confined to be uniform. The externally applied magnetic field is oriented either, parallel or perpendicular to the stress direction. For coherent magnetization reversal, analytical relations between coercivity and stress and remanence and stress were obtained. The nucleation modes and fields for nonuniform, one-dimensional magnetization reversal were calculated. From our analysis we conclude that the stress dependence of coercivity is qualitatively the same with related experiments. (C) 2000 Elsevier Science Ltd. All rights reserved.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
micromagnetics, thin films, inverse magnetostriction effect, magnetization reversal, magnetically saturated media, uniaxial anisotropy-field, exchange coupling field, ni films, coercivity, magnetostriction
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
<Go to ISI>://000086405700006
Γλώσσα
en
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Επιστήμης Υλικών