Electrical behaviour of metal/a-C/Si and metal/CN/Si devices

Φόρτωση...
Μικρογραφία εικόνας

Ημερομηνία

Συγγραφείς

Evangelou, E.
Konofaos, N.
Logothetidis, S.
Gioti, M.

Τίτλος Εφημερίδας

Περιοδικό ISSN

Τίτλος τόμου

Εκδότης

Περίληψη

Τύπος

Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο

Είδος περιοδικού

peer reviewed

Είδος εκπαιδευτικού υλικού

Όνομα συνεδρίου

Όνομα περιοδικού

Carbon

Όνομα βιβλίου

Σειρά βιβλίου

Έκδοση βιβλίου

Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος

Περιγραφή

Electrical characterisation of metal/carbon/Si devices was performed. Amorphous carbon films rich in sp(3) bonds were grown onto n-type Si substrates by RF magnetron sputtering at room temperature. Different deposition conditions were used to create different sp(3) and sp(2) configurations in order to examine their influence on the performance of electronic devices. Suitable metalisation was used to fabricate devices, which were then characterised electrically. Electrical characterisation using I-V, C-G-V and G-omega techniques showed temperature dependent currents through the devices which increase rapidly when forward bias is applied. This behaviour was found to be dependent on the sp(3)-sp(2) contents of the films. The devices behaved like metal-insulator-semiconductor diodes with a defect insulator resulting in creating thermally activated currents through the devices. The effect of nitrogen introduced in the growth process to produce carbon nitride films was also examined. Different amounts of nitrogen were used and the same characterisation process has been used for a variety of samples. The films were nearly perfect insulators and the corresponding devices showed a clear MIS behaviour. Thus, the room temperature magnetron sputtering technique produced films, with electronic properties dependent on the C-C bonding configuration. Moreover it is shown that the nitrogenated films made under certain conditions can be used as insulators in devices. (C) 1999 Elsevier Science Ltd. All rights reserved.

Περιγραφή

Λέξεις-κλειδιά

amorphous carbon, carbon films, sputtering, electronic properties, tetrahedral amorphous-carbon, optical-properties, electronic-properties, diamond films, thin-films

Θεματική κατηγορία

Παραπομπή

Σύνδεσμος

<Go to ISI>://000080216000030
http://ac.els-cdn.com/S0008622398002887/1-s2.0-S0008622398002887-main.pdf?_tid=53c910892abfdd769ea3304b47f33bbb&acdnat=1334219899_2f458a0a82dac318ffe673add35f073c

Γλώσσα

en

Εκδίδον τμήμα/τομέας

Όνομα επιβλέποντος

Εξεταστική επιτροπή

Γενική Περιγραφή / Σχόλια

Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος

Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Επιστημών και Τεχνολογιών. Τμήμα Βιολογικών Εφαρμογών και Τεχνολογιών

Πίνακας περιεχομένων

Χορηγός

Βιβλιογραφική αναφορά

Ονόματα συντελεστών

Αριθμός σελίδων

Λεπτομέρειες μαθήματος

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced