The low energy Αuger electron spectroscopy lines as an Index of the Ba vverlayer order on the Ni (110) surface

Φόρτωση...
Μικρογραφία εικόνας

Ημερομηνία

Συγγραφείς

Βλάχος, Δημήτριος
Καμαράτος, Ευστάθιος
Φούλιας, Στυλιανός

Τίτλος Εφημερίδας

Περιοδικό ISSN

Τίτλος τόμου

Εκδότης

Hakan Arslan

Περίληψη

Τύπος

Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο

Είδος περιοδικού

peer-reviewed

Είδος εκπαιδευτικού υλικού

Όνομα συνεδρίου

Όνομα περιοδικού

International Journal of Spectroscopy (2014)

Όνομα βιβλίου

Σειρά βιβλίου

Έκδοση βιβλίου

Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος

Περιγραφή

Το συγκεκριμένο άρθρο αναφέρεται σε μια παράμετρο της μεθόδου Φασματοσκοπίας ηλεκτρονίων Auger (AES), η οποία χρησιμοποιείται για να αναλύσει χημικά και ποσοτικά την επιφάνεια των στερεών αλλά και για να ελέγξει την καθαρότητα της επιφάνειας. Πιο συγκεκριμένα, γίνεται λόγος, για την γραμμή μετάβασης των ηλεκτρονίων Auger, η οποία επηρεάζεται έντονα από την διαταραχή του προσροφητικού βαρίου, με τις επιπτώσεις της ανόπτησης, να είναι ορατές. Οι επιστήμονες καταλήγουν, συμπερασματικά, πως υπό ορισμένες συνθήκες, η Φασματοσκοπία Ηλeκτρονίων Auger(AES) μπορεί να διαφοροποιηθεί από άμορφες επικαλύψεις.

Περιγραφή

Λέξεις-κλειδιά

Electron, Energy, Experiments, Spectroscopy

Θεματική κατηγορία

Auger electron spectroscopy (AES)

Παραπομπή

Σύνδεσμος

Γλώσσα

en

Εκδίδον τμήμα/τομέας

Όνομα επιβλέποντος

Εξεταστική επιτροπή

Γενική Περιγραφή / Σχόλια

4 σ.

Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος

Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Τμήμα Φυσικής

Πίνακας περιεχομένων

Χορηγός

Βιβλιογραφική αναφορά

Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές

Ονόματα συντελεστών

Αριθμός σελίδων

Λεπτομέρειες μαθήματος

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced

Άδεια Creative Commons

Άδεια χρήσης της εγγραφής: Attribution-NonCommercial 3.0 United States