Localization transition in multilayered disordered systems

Φόρτωση...
Μικρογραφία εικόνας

Ημερομηνία

Συγγραφείς

Evangelou, S. N.
Xiong, S. J.
Markos, P.
Katsanos, D. E.

Τίτλος Εφημερίδας

Περιοδικό ISSN

Τίτλος τόμου

Εκδότης

Περίληψη

Τύπος

Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο

Είδος περιοδικού

peer reviewed

Είδος εκπαιδευτικού υλικού

Όνομα συνεδρίου

Όνομα περιοδικού

Physical Review B

Όνομα βιβλίου

Σειρά βιβλίου

Έκδοση βιβλίου

Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος

Περιγραφή

The Anderson delocalization-localization transition is studied in multilayered systems with randomly placed interlayer bonds of density p and strength t. In the absence of diagonal disorder (W=0), following an appropriate perturbation expansion, we estimate the mean free paths in the main directions and verify by scaling of the conductance that the states remain extended for any finite p, despite the interlayer disorder. In the presence of additional diagonal disorder (W>0) we obtain an Anderson transition with critical disorder W-c and localization length exponent v independently of the direction. The critical conductance distribution P-c(g) varies, however, for the parallel and the perpendicular directions. The results are discussed in connection to disordered anisotropic materials.

Περιγραφή

Λέξεις-κλειδιά

metal-insulator-transition, of-plane resistivity, 2 dimensions, anderson localization, transport-properties, scaling theory, conductance, model, inplane, states

Θεματική κατηγορία

Παραπομπή

Σύνδεσμος

<Go to ISI>://000168059800106

Γλώσσα

en

Εκδίδον τμήμα/τομέας

Όνομα επιβλέποντος

Εξεταστική επιτροπή

Γενική Περιγραφή / Σχόλια

Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος

Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Επιστημών και Τεχνολογιών. Τμήμα Βιολογικών Εφαρμογών και Τεχνολογιών

Πίνακας περιεχομένων

Χορηγός

Βιβλιογραφική αναφορά

Ονόματα συντελεστών

Αριθμός σελίδων

Λεπτομέρειες μαθήματος

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced