Fluorescence studies of polycrystalline Al2O3 composite constituents: piezo-spectroscopic calibration and applications

Φόρτωση...
Μικρογραφία εικόνας

Ημερομηνία

Συγγραφείς

Dassios, K. G.
Galiotis, C.

Τίτλος Εφημερίδας

Περιοδικό ISSN

Τίτλος τόμου

Εκδότης

Springer

Περίληψη

Τύπος

Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο

Είδος περιοδικού

peer reviewed

Είδος εκπαιδευτικού υλικού

Όνομα συνεδρίου

Όνομα περιοδικού

Applied Physics a-Materials Science & Processing

Όνομα βιβλίου

Σειρά βιβλίου

Έκδοση βιβλίου

Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος

Περιγραφή

Optical fluorescence microscopy (OFM) was used to quantify the effect of applied stress or strain upon the position of the R fluorescence line of alpha-Al2O3 composite constituents (fibers and matrices) prior to composite processing. Polycrystalline Nextel(TM) Nextel 720 fibers were tested under tension and compression by means of a cantilever beam technique, whereas the polycrystalline matrix was tested in compression. The position of the R fluorescence line was correlated to applied strain and stress in order to provide the piezo-spectroscopic calibration curve and the corresponding coefficients for both sensors, which form the basis for interpretation of frequency shifts from full, all-alumina, composites. The piezo-spectroscopic coefficients of the polycrystalline matrix were found to be 2.57 cm(-1) GPa(-1) and 2.52 cm(-1) GPa(-1) for the R1 and R2 lines respectively, whereas the coefficients for the polycrystalline alpha-Al2O3 Nextel 720 fibers were found to be 3.07 cm(-1) GPa(-1) and 2.91 cm(-1) GPa(-1) for the R1 and R2 lines, respectively. The effects of collection probe size, as well as penetration depth, are discussed. The established piezo-spectroscopic behavior is used inversely to quantify the residual stresses in the as-received fibers due to the presence of sizing, as well as in the thermally grown alumina layer of an industrial thermal barrier coating.

Περιγραφή

Λέξεις-κλειδιά

optical fluorescence, bridging stresses, oxidation, sapphire, strain, scales, line, luminescence, dependence, crystal

Θεματική κατηγορία

Παραπομπή

Σύνδεσμος

<Go to ISI>://000221675000042

Γλώσσα

en

Εκδίδον τμήμα/τομέας

Όνομα επιβλέποντος

Εξεταστική επιτροπή

Γενική Περιγραφή / Σχόλια

Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος

Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Επιστήμης Υλικών

Πίνακας περιεχομένων

Χορηγός

Βιβλιογραφική αναφορά

Ονόματα συντελεστών

Αριθμός σελίδων

Λεπτομέρειες μαθήματος

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced