Multiwavelength interferometry and competing optical methods for the thermal probing of thin polymeric films
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Vourdas, N.
Karadimos, G.
Goustouridis, D.
Gogolides, E.
Boudouvis, A. G.
Tortai, J. H.
Beltsios, K.
Raptis, I.
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
Wiley
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Journal of Applied Polymer Science
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
Multiple-wavelength interferometry (MWI), a new optical method for the thermal probing of thin polymer films, is introduced and explored. MWI is compared with two standard optical methods, single-wavelength interferometry and spectroscopic ellipsometry, with regard to the detection of the glass transition temperature (T-g) of thin supported polymer films. Poly(methyl methacrylate) films are deposited by spin coating on Si and SiO2 substrates. MWI is also applied to the study of the effect of film thickness (25-600 nm) and polymer molecular weight (1.5 x 10(4) to 10(6)) on T-g, the effect of film thickness on the coefficients of thermal expansion both below and above T-g, and the effect of deep UV exposure time on the thermal properties (glass transition and degradation temperatures) of the films. This further exploration of the MWI method provides substantial insights about intricate issues pertinent to the thermal behavior of thin polymer films. (c) 2006 Wiley Periodicals, Inc.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
glass transition, thin polymeric films, spectroscopic ellipsometry, interferometry, coefficient of thermal expansion, poly(methyl methacrylate), lithography, glass-transition-temperature, poly(methyl methacrylate), thickness dependence, t-g, substrate, ellipsometry, spectroscopy, photoresist, surfaces
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
<Go to ISI>://000241593700091
http://onlinelibrary.wiley.com/store/10.1002/app.25107/asset/25107_ftp.pdf?v=1&t=h3fkdnv5&s=81b182832b0e904e918b7866c13bba8d6dd1e91a
http://onlinelibrary.wiley.com/store/10.1002/app.25107/asset/25107_ftp.pdf?v=1&t=h3fkdnv5&s=81b182832b0e904e918b7866c13bba8d6dd1e91a
Γλώσσα
en
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Επιστήμης Υλικών