Α source of spurious peaks in α mυlti crystal Χ-ray spectrometer
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Kotsis Κ.Τ.
Alexandropoulos Ν.G.
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
IOP Publishing Ltd
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer-reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Journal of Physics E: Scientific Instruments
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
We demonstrate that, under certain conditions, the spectrum of a monochromatic x-ray beam analysed by a multicrystal spectrometer includes several spurious peaks. These erroneous peaks are the result of the angular separation of dynamically and kinematically diffracted radiation. The above separation of the diffracted radiation occurs when the diffraction takes place near, instead of on, a reciprocal lattice point, at one of the spectrometer s crystals.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
http://iopscience.iop.org/0022-3735/20/1/013
Γλώσσα
en
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Επιστημών Αγωγής. Παιδαγωγικό Τμήμα Δημοτικής Εκπαίδευσης