A complementary study of bonding and electronic structure of amorphous carbon films by electron spectroscopy and optical techniques
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Patsalas, P.
Handrea, M.
Logothetidis, S.
Gioti, M.
Kennou, S.
Kautek, W.
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
Elsevier
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Diamond and Related Materials
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
A complementary study of composition and bonding of sputtered a-C films, deposited on Si(001) substrates with various bias voltages (V-b) applied to the substrate during deposition is presented. The sp(3) and sp(3) fractions in the films were calculated by deconvolution of the X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) Cls peak and studied by the differential auger electron spectroscopy (AES) C1s peak signal. The results of this analysis are compared with the estimation of sp(3) fraction calculated by spectroscopic ellipsometry (SE) and validated using density measurements by X-ray reflectivity. It was observed a considerable increase of sp(3) content in films deposited with negative V-b. The respective sp(3) and sp(2) fractions and Ar concentration with respect to the V-b and the depth profile analysis give valuable information on the deposition mechanism of the sputtered a-C films. XPS valence band spectra provided the electron density of states in the a-C films' valence band. The characteristic broad p band of diamond was prominent in most of the films. The valence band structure of the films was correlated with their optical response measured by SE. (C) 2001 Elsevier Science B.V. All rights reserved.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
amorphous carbon, electron spectroscopy, ellipsometry, sputtering, thin-films, diamond films, sp(3) content, xps, ellipsometry, graphite, density
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
<Go to ISI>://000168730600125
Γλώσσα
en
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Επιστήμης Υλικών