Umweg peak intensity dependence οn the incident Χ-ray beam polarization mode
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Alexandropoulos Ν.G.
Kotsis Κ.Τ.
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer-reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Solid State Communications
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
The measured intensities of the three beam X-ray diffraction View the MathML source on silicon crystal, for two modes of polarization, show strong dependence from the polarization mode of the incoming X-ray beam. These results are interpreted within the kinematical theory of X-ray diffraction indicating that when the diffracted beam by the secondary plane is parallel to the crystal surface the kinematical approach is a valid approximation.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/0038109894904219
Γλώσσα
en
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Επιστημών Αγωγής. Παιδαγωγικό Τμήμα Δημοτικής Εκπαίδευσης