Epileptic Seizure Detection in EEGs Using Time-Frequency Analysis

Φόρτωση...
Μικρογραφία εικόνας

Ημερομηνία

Συγγραφείς

Tzallas, A. T.
Tsipouras, M. G.
Fotiadis, D. I.

Τίτλος Εφημερίδας

Περιοδικό ISSN

Τίτλος τόμου

Εκδότης

Περίληψη

Τύπος

Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο

Είδος περιοδικού

peer reviewed

Είδος εκπαιδευτικού υλικού

Όνομα συνεδρίου

Όνομα περιοδικού

Ieee Transactions on Information Technology in Biomedicine

Όνομα βιβλίου

Σειρά βιβλίου

Έκδοση βιβλίου

Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος

Περιγραφή

The detection of recorded epileptic seizure activity in EEG segments is crucial for the localization and classification of epileptic seizures. However, since seizure evolution is typically a dynamic and nonstationary process and the signals are composed of multiple frequencies, visual and conventional frequency-based methods have limited application. In this paper, we demonstrate the suitability of the time-frequency (t-f) analysis to classify EEG segments for epileptic seizures, and we compare several methods for t-f analysis of EEGs. Short-time Fourier transform and several t-f distributions are used to calculate the power spectrum density (PSD) of each segment. The analysis is performed in three stages: 1) t-f analysis and calculation of the PSD of each EEG segment; 2) feature extraction, measuring the signal segment fractional energy on specific t-f windows; and 3) classification of the EEG segment (existence of epileptic seizure or not), using artificial neural networks. The methods are evaluated using three classification problems obtained from a benchmark EEG dataset, and qualitative and quantitative results are presented.

Περιγραφή

Λέξεις-κλειδιά

artificial neural networks (anns), eeg, epilepsy, seizure detection, time-frequency (t-f) analysis, artificial neural-network, support vector machines, spike detection, signals classification, automatic detection, wavelet analysis, algorithms, diagnosis, features, long

Θεματική κατηγορία

Παραπομπή

Σύνδεσμος

<Go to ISI>://000269518900005

Γλώσσα

en

Εκδίδον τμήμα/τομέας

Όνομα επιβλέποντος

Εξεταστική επιτροπή

Γενική Περιγραφή / Σχόλια

Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος

Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Επιστήμης Υλικών

Πίνακας περιεχομένων

Χορηγός

Βιβλιογραφική αναφορά

Ονόματα συντελεστών

Αριθμός σελίδων

Λεπτομέρειες μαθήματος

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced