Heavy ion RBS characterization of multilayer coatings deposited through the sol-gel technique
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Aslanoglou, X.
Assimakopoulos, P. A.
Trapalis, C.
Kordas, G.
Karakassides, M. A.
Pilakouta, M.
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
Elsevier
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
Multilayer reflecting thin films of the systems ZrO2-SiO2 and TiO2-SiO2 were deposited on glass surfaces using the sol-gel technique. A C-12 beam was utilized in RBS analysis to investigate the inner structure of these multilayer stacks. The layers showed uniform thickness and no evidence for significant diffusion between the layers was found. Optical Spectroscopy showed wavelength selectivity in the reflection of an 8-layer TiO2-SiO2 sample.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
backscattering
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
<Go to ISI>://A1996VN26100121
Γλώσσα
en
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Επιστήμης Υλικών