New efficient totally self-checking Berger code checkers

Φόρτωση...
Μικρογραφία εικόνας

Ημερομηνία

Τίτλος Εφημερίδας

Περιοδικό ISSN

Τίτλος τόμου

Εκδότης

Περίληψη

Τύπος

Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο

Είδος περιοδικού

peer reviewed

Είδος εκπαιδευτικού υλικού

Όνομα συνεδρίου

Όνομα περιοδικού

Integration-the Vlsi Journal

Όνομα βιβλίου

Σειρά βιβλίου

Έκδοση βιβλίου

Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος

Περιγραφή

This paper presents a new method for designing totally self-checking (TSC) Berger code checkers for any number k of information bits, even for k = 2(r-1), taking into account realistic faults as stuck-at, transistor stuck-open, transistor stuck-on and resistive bridging faults. Double- as well as single-output TSC checkers are given. The proposed single-output TSC Berger code checkers are the first in the open literature. The checkers designed following the proposed method are significantly more efficient, with respect to the required area and speed, than the corresponding already known from the open literature checkers. (C) 1999 Elsevier Science B.V. All rights reserved.

Περιγραφή

Λέξεις-κλειδιά

self-checking circuits, totally self-checking circuits, berger codes, unidirectional errors

Θεματική κατηγορία

Παραπομπή

Σύνδεσμος

Γλώσσα

en

Εκδίδον τμήμα/τομέας

Όνομα επιβλέποντος

Εξεταστική επιτροπή

Γενική Περιγραφή / Σχόλια

Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος

Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής

Πίνακας περιεχομένων

Χορηγός

Βιβλιογραφική αναφορά

Ονόματα συντελεστών

Αριθμός σελίδων

Λεπτομέρειες μαθήματος

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced