Umweg peak high resolution flat crystal Χ-ray spectrometer
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Alexandropoulos Ν.G.
Kotsis Κ.Τ.
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer-reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Solid State Communications
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
The construction of an X-ray wavelength dispersive flat crystal spectrometer using an n-beam diffraction peak is presented here. Such a spectrometer, although it is as simple as a flat crystal Bragg spectrometer, provides higher energy resolution than any other wavelength dispersive spectrometer available today. We demonstrate that by selecting the appropriate crystal and umweg peak for the under investigation wavelength area, the energy resolution can exceed the value....
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/003810989290607B
Γλώσσα
en
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Επιστημών Αγωγής. Παιδαγωγικό Τμήμα Δημοτικής Εκπαίδευσης