Rare-earth silicide thin film study. Comparison of heavy ion and conventional RBS
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Aloupogiannis, P.
Travlos, A.
Aslanoglou, X.
Pilakouta, M.
Weber, G.
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Vacuum
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
Rare-earth silicides have been studied by RBS spectrometry and X-ray diffraction. 12C and 4He RBS at 10 and 2 MeV, respectively, were used in order to compare heavy ion RBS (HIRBS) with conventional 4He RBS. 12C RBS gives better mass resolution for heavy elements (M > 28 amu), but slightly poorer depth resolution in comparison with conventional RBS. In addition, the limited accuracy with which stopping power data of 12C are known limits the accuracy of HIRBS.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/0042207X9390009Y
Γλώσσα
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Επιστημών και Τεχνολογιών. Τμήμα Βιολογικών Εφαρμογών και Τεχνολογιών