Reliability issues and electrical characteristics of rare-earth oxides and their gate stacks grown on germanium substrates

Φόρτωση...
Μικρογραφία εικόνας

Ημερομηνία

Συγγραφείς

Shahinur, Rahman

Τίτλος Εφημερίδας

Περιοδικό ISSN

Τίτλος τόμου

Εκδότης

Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Φυσική

Περίληψη

Τύπος

Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο

Είδος περιοδικού

Είδος εκπαιδευτικού υλικού

Όνομα συνεδρίου

Όνομα περιοδικού

Όνομα βιβλίου

Σειρά βιβλίου

Έκδοση βιβλίου

Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος

Περιγραφή

Περιγραφή

Λέξεις-κλειδιά

-

Θεματική κατηγορία

-

Παραπομπή

Σύνδεσμος

Δ.Δ. RAH 2009

Γλώσσα

en

Εκδίδον τμήμα/τομέας

Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Φυσική

Όνομα επιβλέποντος

Evangelou, E.

Εξεταστική επιτροπή

Floudas, G.
Dimoulas, A.
Kamaratos, M.
Kontiras, Chr.
Konofaos, N.
Patsalas, Pan.

Γενική Περιγραφή / Σχόλια

Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος

Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Φυσικής

Πίνακας περιεχομένων

Χορηγός

Βιβλιογραφική αναφορά

Βιβλιογραφία: σ. 214

Ονόματα συντελεστών

Αριθμός σελίδων

221 σ.

Λεπτομέρειες μαθήματος

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced