Reliability issues and electrical characteristics of rare-earth oxides and their gate stacks grown on germanium substrates
| dc.contributor.author | Shahinur, Rahman | en |
| dc.date.accessioned | 2015-10-22T10:11:19Z | |
| dc.date.available | 2015-10-22T10:11:19Z | |
| dc.identifier.uri | https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/1246 | |
| dc.identifier.uri | http://dx.doi.org/10.26268/heal.uoi.1402 | |
| dc.rights | Default License | |
| dc.subject | - | |
| dc.title | Reliability issues and electrical characteristics of rare-earth oxides and their gate stacks grown on germanium substrates | el |
| heal.academicPublisher | Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Φυσική | el |
| heal.academicPublisherID | uoi | |
| heal.access | free | |
| heal.advisorName | Evangelou, E. | el |
| heal.bibliographicCitation | Βιβλιογραφία: σ. 214 | el |
| heal.classification | - | |
| heal.committeeMemberName | Floudas, G. | en |
| heal.committeeMemberName | Dimoulas, A. | en |
| heal.committeeMemberName | Kamaratos, M. | en |
| heal.committeeMemberName | Kontiras, Chr. | en |
| heal.committeeMemberName | Konofaos, N. | en |
| heal.committeeMemberName | Patsalas, Pan. | en |
| heal.fullTextAvailability | true | |
| heal.identifier.secondary | Δ.Δ. RAH 2009 | |
| heal.language | en | |
| heal.numberOfPages | 221 σ. | |
| heal.publicationDate | 2009 | |
| heal.recordProvider | Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Φυσικής | |
| heal.type | doctoralThesis | |
| heal.type.el | Διδακτορική διατριβή | el |
| heal.type.en | Doctoral thesis | en |
Αρχεία
Πρωτότυπος φάκελος/πακέτο
1 - 1 of 1
Φόρτωση...
- Ονομα:
- Δ.Δ. - SHAHINUR RAHMAN.pdf
- Μέγεθος:
- 6.05 MB
- Μορφότυπο:
- Adobe Portable Document Format
- Περιγραφή:
Φάκελος/Πακέτο αδειών
1 - 1 of 1
Φόρτωση...
- Ονομα:
- license.txt
- Μέγεθος:
- 1.71 KB
- Μορφότυπο:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Περιγραφή: