Test Schedule Optimization for Multicore SoCs: Handling Dynamic Voltage Scaling and Multiple Voltage Islands

Φόρτωση...
Μικρογραφία εικόνας

Ημερομηνία

Συγγραφείς

Kavousianos, X.
Chakrabarty, K.
Jain, A.
Parekhji, R.

Τίτλος Εφημερίδας

Περιοδικό ISSN

Τίτλος τόμου

Εκδότης

Περίληψη

Τύπος

Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο

Είδος περιοδικού

peer reviewed

Είδος εκπαιδευτικού υλικού

Όνομα συνεδρίου

Όνομα περιοδικού

Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on

Όνομα βιβλίου

Σειρά βιβλίου

Έκδοση βιβλίου

Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος

Περιγραφή

In order to provide high performance with low power consumption, many multicore chips employ dynamic voltage scaling and voltage islands that operate at multiple power-supply voltage levels. Effective defect screening for such chips requires test applications at different operating voltages, which leads to higher test time and test cost compared to systems-on-a-chip (SoCs), which operate at only a single voltage level. We propose test scheduling techniques to minimize the testing time for multicore chips when each core is tested at multiple voltage levels and when it is tested for state retention when the core switches between two voltage levels. The proposed techniques include exact optimization based on integer linear programming and fast heuristic methods. Experimental results for two test-case SoCs from the industry highlight the effectiveness of the proposed method.

Περιγραφή

Λέξεις-κλειδιά

integer programming, linear programming, low-power electronics, multiprocessing systems, scheduling, system-on-chip, core switches, defect screening, dynamic voltage scaling, fast heuristic methods, integer linear programming, low power consumption, multicore system-on-chip, multivoltage domain testing, power supply voltage levels, state retention, test cost, test schedule optimization, test time, voltage islands, Complexity theory, Job shop scheduling, Multicore processing, Optimization, Schedules, System-on-a-chip, Testing, Core-based testing, SoC test scheduling, multicore systems-on-a-chip (SoCs)

Θεματική κατηγορία

Παραπομπή

Σύνδεσμος

Γλώσσα

Εκδίδον τμήμα/τομέας

Όνομα επιβλέποντος

Εξεταστική επιτροπή

Γενική Περιγραφή / Σχόλια

Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος

Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής

Πίνακας περιεχομένων

Χορηγός

Βιβλιογραφική αναφορά

Ονόματα συντελεστών

Αριθμός σελίδων

Λεπτομέρειες μαθήματος

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced