Noise measurements on Si sensors
Φόρτωση...
Ημερομηνία
Συγγραφείς
Evangelou, I.
Kokkas, P.
Manthos, N.
Prouskas, C.
Triantis, F.
Tzoulis, N.
Aspell, P.
Barney, D.
Bloch, P.
Kloukinas, K.
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
Περίληψη
Τύπος
Είδος δημοσίευσης σε συνέδριο
Είδος περιοδικού
peer reviewed
Είδος εκπαιδευτικού υλικού
Όνομα συνεδρίου
Όνομα περιοδικού
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section a-Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipment
Όνομα βιβλίου
Σειρά βιβλίου
Έκδοση βιβλίου
Συμπληρωματικός/δευτερεύων τίτλος
Περιγραφή
Developing silicon strip sensors for the CMS Preshower detector we have noticed that some strips have a noise higher than the average and not correlated to a high leakage current. In order to investigate this effect we have developed a setup for noise measurement on wafers and diced sensors that does not require bonding. The set-up is based on the DeltaStream chip coupled to a probe card. We have tested 45 sensors and found that the strips with an above average noise have a higher relative current increase as a function of voltage, DeltaI/(IDeltaV). We also observed that, on these strips, the breakdown occurs within about 60 V from the voltage at which the noise is observed. We describe our measurement method and present the results. (C) 2002 Elsevier Science B.V. All rights reserved.
Περιγραφή
Λέξεις-κλειδιά
cms, preshower, silicon strips, noise
Θεματική κατηγορία
Παραπομπή
Σύνδεσμος
<Go to ISI>://000178895500004
http://ac.els-cdn.com/S0168900202015565/1-s2.0-S0168900202015565-main.pdf?_tid=5a478c6cab89e09450156f1606a4df8f&acdnat=1334228577_71a572a2575cddc7c2fe95b225c8a6d7
http://ac.els-cdn.com/S0168900202015565/1-s2.0-S0168900202015565-main.pdf?_tid=5a478c6cab89e09450156f1606a4df8f&acdnat=1334228577_71a572a2575cddc7c2fe95b225c8a6d7
Γλώσσα
en
Εκδίδον τμήμα/τομέας
Όνομα επιβλέποντος
Εξεταστική επιτροπή
Γενική Περιγραφή / Σχόλια
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Επιστημών και Τεχνολογιών. Τμήμα Βιολογικών Εφαρμογών και Τεχνολογιών